鍍銀層厚度的基本概念

電鍍性質(zhì)決定鍍層厚度不可能很均勻，邊角處、折角處（國(guó)際上采用直徑為19的球測(cè)量直徑以外區(qū)域，國(guó)內(nèi)用直徑20的球測(cè)量直徑以外區(qū)域）、深孔處等只需做到有鍍層即可，不可能所有面、所有點(diǎn)都達(dá)到5μm以上，只能說(shuō)主要面最小厚度盡量做到等于或者大于5μm，具體可參考相關(guān)電鍍標(biāo)準(zhǔn)（國(guó)標(biāo)或者ISO標(biāo)準(zhǔn)）。

1、鍍層均勻性： 

所有電鍍層的厚度都不會(huì)是均勻的，這是電鍍的性質(zhì)決定的。因?yàn)樵谕粋€(gè)制件上，電流密度不可能做到均勻。

不管什么電鍍都是厚度不均勻,只是相差的大與小的問(wèn)題,如掛鍍時(shí),每掛最上面和下面的工件肯定會(huì)比中間的厚一些,滾鍍的有時(shí)一些工件滾到一些死角的地方，厚度比那些滾的流暢的工件厚度要薄一些，那單個(gè)工件來(lái)說(shuō)，邊角部分的厚度比中間部位的厚度要厚，這是肯定的，雖然有些廠里做了工件高區(qū)的遮擋，以免電流增大，高區(qū)燒焦，也是為了低區(qū)的厚度提升，高區(qū)厚度降低，來(lái)提升整體的厚度均勻，但是還是不可能那么均勻。這所有這些現(xiàn)象都是一個(gè)原因，就是電鍍產(chǎn)品電鍍時(shí)的情況就像磁鐵一樣有一個(gè)磁力線原理，邊角或尖端的電流線是密集的，中間肯定會(huì)比邊緣的少的緣故。

2、電鍍工藝缺陷：

工藝允許的缺陷是指由于電鍍工藝的限制，在電鍍加工過(guò)程中出現(xiàn)的不可克服的缺陷，在一定的范圍內(nèi)，不作為不合格的判定依據(jù)。工藝允許的缺陷往往是由于鍍件結(jié)構(gòu)復(fù)雜和電鍍工藝技術(shù)的限制而難以完全消除的缺陷，比如深孔內(nèi)可以允許一定孔深內(nèi)沒(méi)有鍍層，或規(guī)定孔口向內(nèi)的一定距離內(nèi)有鍍層即為合格等。但是工藝允許的缺陷以不損失產(chǎn)品的使用功能為前提，是在不影響產(chǎn)品性能前提下的讓步接收。

3、鍍層測(cè)量 GB12334 等效 ISO 2064

   (1) 適用范圍 本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)定義了有關(guān)任何基體上的金屬和其他非有機(jī)覆蓋層厚度測(cè)量的術(shù)語(yǔ)。此外，還規(guī)定了一些測(cè)量覆蓋層最小厚度所要遵循的通則。

  (2) 本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)采用以下定義 ①主要表面：工件上已涂覆或待涂覆的部分，對(duì)這部分而言，覆蓋層對(duì)使用性能和/或外觀都是至關(guān)重要的；并且這部分的覆蓋層必須符合所有規(guī)定要求。②測(cè)量面：主要表面上作單個(gè)測(cè)量的區(qū)域。以下方法的“測(cè)量面”的相應(yīng)定義為：

  (a)分析法的測(cè)量面為退除覆蓋層的區(qū)域；

  (b)陽(yáng)極溶解法的測(cè)量面為電解池封閉圈所包圍的區(qū)域；

  (c)顯微鏡法的測(cè)量面為在規(guī)定放大倍數(shù)下的視野區(qū)域；

  (d)無(wú)損法的測(cè)量面為探頭區(qū)域或影響讀數(shù)的區(qū)域。

  ③參比面：要求作規(guī)定次數(shù)的單個(gè)測(cè)量的表面。

  ④局部厚度：在參比面內(nèi)規(guī)定次數(shù)厚度測(cè)量的平均值。

  ⑤最小局部厚度：在單個(gè)工件的主要表面所測(cè)得的局部厚度的最小值。

  ⑥最da局部厚度：在單個(gè)工件的主要表面所測(cè)得的局部厚度的最da值。

  ⑦平均厚度：或者是采用分析法得到的值，或者是采用在主要表面上進(jìn)行規(guī)定次數(shù)的局部厚度測(cè)量得到的平均值。

  (3) 局部厚度的測(cè)量 平均厚度測(cè)量通常在總表面積有限的小件上進(jìn)行：

  ①主要表面小于1 cm2的試件 用于測(cè)量局部厚度的正常參比面應(yīng)當(dāng)是試件的全部主要表面。在此參比面內(nèi)要作的單個(gè)測(cè)量次數(shù)，應(yīng)由有關(guān)各方商定。在特殊情況下，可采取一些較小的參比面，但它們的尺寸、數(shù)量和位置應(yīng)由各方商定。

  ②主要表面大于1 cm2的試件 局部厚度應(yīng)在約為1 cm2的參比面內(nèi)進(jìn)行測(cè)量(在可能的情況下，是1 cm×1 cm的面積)。在此參比面內(nèi)至多可取5個(gè)散布的測(cè)點(diǎn)(具體數(shù)取決于所用的測(cè)量方法)。實(shí)際要作的測(cè)量次數(shù)應(yīng)由有關(guān)各方商定。

 ③顯微鏡法 采用ISO 1463規(guī)定的顯微法測(cè)量時(shí)，至少應(yīng)當(dāng)沿規(guī)定的顯微截面長(zhǎng)度作5個(gè)散布點(diǎn)的測(cè)量。

 (4) 平均厚度的測(cè)量

 ①分析法：采用質(zhì)量損失方法測(cè)量平均厚度時(shí)，選擇的測(cè)量面應(yīng)當(dāng)足夠大以便能用稱重法準(zhǔn)確測(cè)量質(zhì)量損失。如果涂覆件的主要表面小于要求的最小測(cè)量面積，則應(yīng)選擇一定數(shù)量的單個(gè)試件以便能提供一次測(cè)量所要求的測(cè)量面積，而且測(cè)量結(jié)果應(yīng)為平均厚度。如果涂覆件的主要表面的面積未明顯超過(guò)要求的最小測(cè)量面積，則在該件上的一次測(cè)量應(yīng)視為該件的平均厚度。至少應(yīng)測(cè)量?jī)蓚€(gè)試件以證明測(cè)量精度。如果涂覆件的主要表面明顯地超過(guò)要求的最小測(cè)量面積，則應(yīng)在主要表面內(nèi)分散作規(guī)定次數(shù)的重復(fù)測(cè)量，并分別記錄測(cè)量結(jié)果。

② 其他方法：如果涂覆件的主要表面的面積沒(méi)有明顯超過(guò)測(cè)量局部厚度的參比面，則應(yīng)當(dāng)將局部厚度值作為平均厚度。如果涂覆件的主要表面的面積明顯地超過(guò)測(cè)量局部厚度的參比面，則應(yīng)當(dāng)將散布于主要表面上的3～5個(gè)局部厚度測(cè)量值R 平均值作為平均厚度。